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为因应趋于严格的RoHS法规, 新购一台 XRF分析仪

2022/05/31 > Back


XRF是一种非破坏性分析技术, 可测量物品被一次X射线激发时所发出的荧光(或二次)X射线。发出的信号强度可用来判定涂层的厚度, 亦可判定基质的厚度。

1. 可同时测量的镀层多达5层, 合金属亦可被分析, 其分析涂层厚度约0.01-50μm(视材质种类)。
2. 兼具RoHS有害物质元素分析, 可检出限值达2ppm。元素范围: 硫(S)到铀(U); 元素含量范围: 1 ppm到99.99%
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